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アイテム / 次世代メモリデバイスへ向けて原子層堆積法により作製したHfxZr1?xO2薄膜の強誘電性に関する研究 / 1018_sum
1018_sum
| ファイル | ライセンス |
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 1018_sum.pdf (244.8 kB)
sha256
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| 公開日 | 2022-10-11 | |||||
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| ファイル名 | 1018_sum.pdf | |||||
| 本文URL | https://meiji.repo.nii.ac.jp/record/15229/files/1018_sum.pdf | |||||
| ラベル | 論文要旨 | |||||
| オブジェクトタイプ | abstract | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 244.8 kB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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